ئومۇمىي چۈشەنچە:

Crush is a veryتىپىكc نىڭ بىخەتەرلىكىنى دەلىللەشells، c نىڭ سوقۇلۇش سوقۇلۇشىنى تەقلىد قىلىشellsياكى ئاخىرقى مەھسۇلاتsكۈندىلىك ئىشلىتىشتە.ئادەتتە ئىككى خىل بولىدۇئېزىشسىناق: تەكشىئېزىشۋە قىسمەنئېزىش.تەكشىلىك بىلەن سېلىشتۇرغاندائېزىش، قىسمەنindentationشارسىمان ياكى سىلىندىرسىمان بەلۋاغ كەلتۈرۈپ چىقارغان سەۋەبنى كەلتۈرۈپ چىقىرىشى مۇمكىنcell ئۈنۈمسىز.كۆرسەتكۈچ قانچە ئۆتكۈر بولسا ، لىتىي باتارېيەسىنىڭ يادرولۇق قۇرۇلمىسىغا بولغان بېسىم قانچە مەركەزلەشسە ، ئىچكى يېرىلىش شۇنچە ئېغىر بولىدۇ.يادرولۇقبۇ يادرونىڭ ئۆزگىرىشى ۋە يۆتكىلىشىنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ ، ھەتتا ئېلېكترولىت ئېقىپ كېتىش ھەتتا ئوت ئاپىتى قاتارلىق ئېغىر ئاقىۋەتلەرنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ.قانداق قىلىدۇئېزىشto lead toئەمەلدىن قالدۇرۇشof cell? بۇ يەردەسىزنى يەرلىك ئاجرىتىپ چىقىرىش سىنىقىدىكى يادرونىڭ ئىچكى قۇرۇلمىسىنىڭ ئۆزگىرىشى بىلەن تونۇشتۇرىمىز.

Crushجەريان:

• قىسىش كۈچى ئالدى بىلەن ھۈجەيرە قورۇسىغا قوللىنىلىدۇ ، قورشاۋ شەكلى ئۆزگىرىدۇ.ئاندىن بۇ كۈچ باتارېيەنىڭ ئىچىگە يۆتكىلىدۇ ، ھۈجەيرە قۇراشتۇرۇشمۇ شەكلى ئۆزگىرىشكە باشلايدۇ.
• ئېزىش بېشىنى تېخىمۇ قىسىش ئارقىلىق شەكلى ئۆزگىرىپ ، يەرلىكلىشىش شەكىللىنىدۇ.شۇنىڭ بىلەن بىر ۋاقىتتا ، ھەر بىر ئېلېكترود قەۋىتى ئوتتۇرىسىدىكى قەۋەت ئارىلىقى تەدرىجىي قىسقىرايدۇ.توختىماي پىرىسلاش ئاستىدا ، نۆۋەتتىكى يىغىپ ساقلىغۇچى ئېگىلىپ شەكلى ئۆزگىرىپ ، قىرقىش بەلبېغى شەكىللىنىدۇ.ئېلېكترود ماتېرىيالىنىڭ شەكلى چېكىگە يەتكەندە ، ئېلېكترود ماتېرىيالى يېرىلىش پەيدا قىلىدۇ.
• شەكلى ئۆزگىرىشىنىڭ ئېشىشىغا ئەگىشىپ ، يېرىلىش ئاستا-ئاستا ھازىرقى يىغىپ ساقلىغۇچىغا كېڭىيىدۇ ، ئۇ يىرتىلىپ ، نەيچە سۇنۇق پەيدا قىلىدۇ.ئۇنىڭدىن باشقا ، بېسىمنىڭ كۈچىيىشى ۋە رادىئاتسىيەنىڭ يۆتكىلىشى سەۋەبىدىن رادىئاتسىيە يېرىلىش ئۇزىراپ كېتىدۇ.
• بۇ ۋاقىتتا ، چىقىرىۋېتىش كۈچى ھۈجەيرىنى داۋاملىق پىرىسلاپ ، تېخىمۇ كۆپ ئېلېكترود قەۋىتىنىڭ شەكلى ئۆزگىرىپ كېتىشنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ ، بۇ قىرقىش رايونىنىڭ كېڭىيىشىنى ، يانتۇ بۇلۇڭىنىڭ ئۆزگىرىشىنى (45 °) ، قىرقىش رايونى دائىرىسىنىڭ تېخىمۇ كېڭىيىشىنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ.
• ئاخىرىدا ، دىئافراگما داۋاملىق سوزۇلۇپ بۇرمىلانغانلىقتىن ، يېرىقلار دىئافراگماغىچە كېڭىيىدۇ.ئۇ ئاكتىپسىزلىنىش نۇقتىسىغا يەتكەندە ، دىئافراگما يىرتىلىپ ، ياندىكى ئېلېكترودلار ئۇچرىشىپ ، ئىچكى قىسقا توك يولىنى شەكىللەندۈرىدۇ.بۇ ۋاقىتتا ، قىسقا توك يولىدا چوڭ قىسقا توك يولى ھاسىل بولۇپ ، كۈچلۈك قىزىتىش ۋە تېمپېراتۇرىنىڭ تېز ئۆرلىشىنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ ، بۇ ھۈجەيرە ئىچىدىكى يان ئىنكاسلارنى قوزغايدۇ ، ئاخىرىدا ئىسسىقلىق قالايمىقانچىلىقى يۈز بېرىشى مۇمكىن.

خۇلاسە:

ئېزىش سىنىقى بىر خىل مېخانىكىلىق خورلاش.مېخانىكىلىق قالايمىقان ئىشلىتىش لىتىي ئىئونلۇق باتارېيەنى كۈندىلىك ئىشلىتىشتە ساقلانغىلى بولمايدىغان بىخەتەرلىك خەۋىپى بولۇپ ، بۇ دىئافراگمانىڭ يېرىلىشىنى كەلتۈرۈپ چىقىرىدۇ ھەمدە ئىچكى قىسقا توك يولىنى قوزغىتىدۇ.قانداقلا بولمىسۇن ، ئېزىش بېشىنىڭ شەكلى ، ئېزىش بېسىمىنىڭ چوڭ-كىچىكلىكى ۋە ھۈجەيرىنىڭ كۈچلۈكلىكى سەۋەبىدىن ، ئېزىش سىنىقىنىڭ نەتىجىسى ھەمىشە ئوخشىمايدۇ.ھۈجەيرە ماتېرىيالى ياكى قۇرۇلمىسىنى ئەلالاشتۇرۇش ئىمكانقەدەر ئېزىش سىنىقى ئېلىپ كەلگەن ھۈجەيرىلەرنىڭ ئاكتىپسىزلىنىشىدىن ساقلىنىش كېرەك.مەسىلەن ، تېخىمۇ بىخەتەر ، تېخىمۇ تۇراقسىز دىئافراگما ئىشلىتىش ياكى ھۈجەيرىلەرنىڭ ئىسسىقلىق تارقىتىش ئىقتىدارىنىڭ ياخشىلىنىشى ئىچكى قىسقا توك يولى يۈز بەرگەندە ئىسسىقلىق قالايمىقان ئىشلىتىشنىڭ ئالدىنى ئالىدۇ.